JEOL：推出全新桌上型掃描電子顯微鏡「JCM-7000Plus NeoScope™」

JEOL LTD.

JEOL：推出全新桌上型掃描電子顯微鏡「JCM-7000Plus NeoScope™」

2026-09-02 14:13

高科技

東京--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd.（總裁兼執行長：Izumi Oi）開發了桌上型掃描電子顯微鏡(SEM)「JCM-7000Plus」，並將於2026年9月1日開始銷售。

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[開發背景]

桌上型掃描電子顯微鏡在電氣和電子、汽車和機械、鋼鐵和金屬、化學和醫藥等領域的應用日益廣泛。它們不僅用於研發，還用於品質控制和產品檢驗等與製造相關的應用。此外，它們也被中學、高中和大學等教育機構採用。鑑於這些多樣化的應用，市場對提高操作效率、實現更為簡易和自動化的操作以及強化觀察、分析和量測效能的需求與日俱增。

為了滿足這些需求，我們將著陸電壓（加快電壓）擴充到了20 kV。這將解析度提高到了6 nm，從而能夠在更高的放大倍率下進行量測。

在軟體方面，新的JCM-7000Plus保留了目前JCM-7000簡單、易於使用的GUI，包括能夠實現從光學影像到SEM觀察順暢轉換的Zeromag，以及允許在觀察期間進行即時元素分析的Live Analysis功能。它還增加了強化的自動化功能Neo Action。

除了現有的三個Live功能（Live Analysis、Live Map和Live 3D）之外，我們還增加了兩個新功能：Live Particle，可在觀察時自動即時量測顆粒尺寸和數量；以及Live Report，可在移動視野時自動取得資料並生成報告，這是高階FE-SEM中的一項功能。這些功能簡化了日常任務，使其更加直覺式和高效，同時強力支撐使用者的分析工作流程。

[主要特點]

1. 將著陸電壓擴充到20 kV，以提高解析度（二次電子影像：6 nm，背向散射電子影像：8 nm）

2. 改進的背向散射電子探測器，以強化影像品質

3. 新的Live Particle功能可自動量測顆粒尺寸和數量，從而簡化工作流程

4. Live Report可在移動視野時進行資料擷取和報告建立，從而提高工作效率

5. 保留了簡單且易於使用的GUI，並增加了自動化功能，使操作更加直覺式和簡便

[銷售目標]

300台/年

[相關連結]

產品資訊：JCM-7000Plus NeoScope™桌上型SEM
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/jcm-7000plus.php

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