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Test Devices, Inc.推出光学应变测量服务

2016-06-28 16:23
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马萨诸塞州哈德逊--(美国商业资讯)--Test Devices, Inc.宣布推出新的光学应变测量服务,将其测量技术应用到高速旋转部件上。

 

Test Devices的客户现在可以在旋转试验期间捕获整个部件的应变数据。光学应变测量服务可以同时测量和记录成千上万个位置的表面应变。所采集的数据可以作为独立的资源,或者为传统测量提供补充。

 

Test Devices董事长兼所有人H. Eric Sonnichsen表示:“光学应变测量在旋转试验中的新应用得益于计算能力和图像分析技术所取得的进展。光学应变测量过去局限于静态部件,然而现在我们可以应用它来获得压缩机和涡轮机转子等高速部件的非接触式全应变场图像。Test Devices正不断做出改进,旨在使光学应变测量成为经济实惠的行业解决方案并广泛应用于一系列高速试验和生产应用。”

 

光学应变测量获得的高价值数据非常适合于评估涡轮机叶片和叶轮等小型或复杂零部件的特征。

 

作为一种非接触式技术,光学应变测量无需采用像传统试验中连接应变计和引线那样昂贵、耗时的工艺。光学应变测量过程中获得的数据受到影响的可能性更低,因为不存在应变计分离因素。

 

该新技术具有更广泛的适用性。只要提供检视端口,即可将光学应变测量设备安装于远离待测物体的位置或者测试室之外。这样可以在极端条件下在测试期间进行光学应变测量,包括传统测试中可能损坏应变计的高温和腐蚀性环境。

 

光学应变测量可减少传统应变测量技术中不可避免的结果猜测。利用光学系统生成的应变图便于更丰富、更全面地了解零部件的任何变形。

 

关于TEST DEVICES

 

30多年来,Test Devices, Inc.一直是世界一流的研发测试、生产测试和测试设备提供商。Test Devices为开发和制造喷气式发动机、燃气轮机、医用离心机、机床、工业压缩机和高速电动机等装置的高速旋转部件的企业提供先进的旋转试验服务。

 

www.testdevices.com

 

说明: http://cts.businesswire.com/ct/CT?id=bwnews&sty=20160627005989r1&sid=18029&distro=ftp

原文版本可在businesswire.com上查阅:http://www.businesswire.com/news/home/20160627005989/en/

 

免责声明:本公告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便了解之用,烦请参照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

 

联系方式:

 

媒体联系人:
van Schouwen Associates, LLC
Tyler Leahy, 413-567-8700 x104
tleahy@vsamarketing.com

Test Devices, Inc.
David Woodford, 978-562-4923
woodford@testdevices.com

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