简体中文 | 繁體中文 | English

A/Atrenta

STARC与Atrenta就EDA工具质量管理体系展开合作

2010-01-28 10:07
  • 简体

日本横滨--(美国商业资讯)--日本半导体技术学术研究中心(简称"STARC")与Atrenta Inc.今天宣布,双方合作开发一种电子设计自动化(EDA)工具质量管理体系。该系统基于STARC提供的质量评价数据库,并且拓展了对Atrenta的SpyGlass®寄存器传输级(RTL)平台正在进行的质量监测。

作为此次合作的一部分,STARC为Atrenta提供了回归测试规格和大量的设计测试案例。Atrenta随后将这些测试整合进他们的SpyGlass平台回归测试套件,从而可实现对各版本SpyGlass平台的质量和生产准备就绪的详细测试。Atrenta会为STARC提供一份质量评价报告,其中包括回归测试结果、发现的漏洞的类型以及在目标版本之前实施的决议。

STARC副总裁兼总经理Nobuyuki Nishiguchi表示:"在过去一年半的时间里,我们一直与Atrenta合作实施这项计划。SpyGlass系列的产品质量使得我们能够取得显著进步。通过此次合作,STARC能够更轻松地为我们的企业客户提供领先的前端设计方法。我们的企业客户如今能够非常有效地部署新版SpyGlass。"

Atrenta营销部副总裁Mike Gianfagna说:"质量数据库是实施改良质量程序的一种有效方法,因为它获得了STARC所有客户的授权,并且基于现实设计问题而开发。通过客户测试案例获取计划,我们不断改进我们的软件回归套件,而此次与STARC的合作是一次重要的补充。通过此次合作,我们可以加快向推进Early Design Closure® 的STARC客户推出优质产品。"

Atrenta与STARC打算将该计划拓展至其它产品系列,以推动产品质量的持续改善,并为STARC成员企业降低采用和部署成本。

关于STARC

 日本半导体技术学术研究中心(STARC)是由日本主要半导体公司于1995年12月共同创建的一个研究联盟。其使命是通过开发领先的片上系统(SoC)设计技术来推动日本半导体行业的发展。

欲了解详情,请访问:http://www.starc.jp/index-e.html

关于Atrenta

 Atrenta是领先的Early Design Closure®解决方案提供商,这些解决方案旨在通过集成电路设计流程从根本上提高设计效率。客户可以通过Atrenta工具和方法来捕获设计意图、探索各种实施选项、验证RTL以及在早期对设计进行优化,从而可以避免昂贵且耗时的复杂实施。该公司拥有150多位客户,其中包括全球最顶尖的10大半导体公司。Atrenta为Early Design Closure提供业界最全面的解决方案。垂询详情,请访问www.atrenta.com。Atrenta,从一开始就这样!(Atrenta, Right from the Start!)

Atrenta、Atrenta标识、SpyGlass和Early Design Closure是Atrenta Inc.的注册商标。所有其它标识为其各自所有者拥有。

本新闻稿包含前瞻性声明。Atrenta无任何义务并且不会对本新闻稿中的前瞻性声明进行更新或修改。

 

免责声明:本公告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便了解之用,烦请参照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

 

联系方式:

Atrenta企业部:
Atrenta Inc.
Charu Puri,电话: +1-408-467-4254
公司营销部:
电邮:cpuri@atrenta.com

Atrenta公关代理:
Lee PR
Ed Lee,电话:+1-650-363-0142
电邮:ed@leepr.com

STARC
M.Ozawa,电话:+81-45-478-3300
开发部门-1
H.Ando,电话:+81-45-478-3300
http://www.starc.jp/other/contactus-e.html

 

 

分享到: