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JEOL LTD.

JEOL:推出新的超高原子解析度分析電子顯微鏡JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2)

2020-02-17 12:39
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東京--(美國商業資訊)--日本電子株式會社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(總裁兼營運長:Izumi Oi)宣佈推出新的原子解析度分析電子顯微鏡JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2),該電子顯微鏡將於2020年2月發佈。

此新聞稿包含多媒體內容。完整新聞稿可在以下網址查閱:https://www.businesswire.com/news/home/20200213005977/en/

產品開發背景

在電子顯微學領域,眾多顯微鏡學家和工程師一直在追求解析度的改善。同時,JEOL致力於改善穿透式電子顯微鏡(TEM)的穩定性。結合像差校正技術與上述努力,我們已成功獲得超高的解析度。

JEM-ARM300F (GRAND ARM(TM))是可提供同類最佳解析度的原子解析度TEM。但是,對現代TEM的需求同時包括硬質材料及軟質材料的表徵。在這種情況下,TEM使用者渴求進一步改善解析度和分析,並獲得更高的準確度。

日本電子株式會社已開發出可符合所述要求的新TEM,即JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2)。這款超高原子解析度分析TEM搭載諸多功能。特別是借助新型物鏡極片FHP2,GRAND ARM(TM)2達成超高原子解析度影像與同類最佳的大立體角EDS元素分析的最佳組合。

GRAND ARM(TM)2的標準配置包括外殼,該外殼可減少外部干擾,從而提高儀器的穩定性。

主要特性

1. 超高空間解析度與高靈敏度X光分析的最佳組合。
新開發的FHP2物鏡極片的特性如下:
1) 與之前的FHP相比,FHP2提供更高的X光探測效率(1.4sr),是FHP的兩倍以上。
2) 低光學係數、低Cc係數和低Cs係數使得超高空間解析度和高靈敏度X光分析可在一定範圍的加速電壓下執行。
(保證的STEM解析度:300kV時53pm,80kV時96pm)*
*這是指配置STEM擴展軌跡像差(ETA)校正器時。

2. 物鏡的寬間隙極片(WGP)有助於超高靈敏度的X光分析。
該極片的上磁極和下磁極之間的間隙較大,具有以下優點:
1) WGP使大面積的SDD(矽漂移檢測器)能夠靠近樣品,達成超高靈敏度的X光分析(總立體角為2.2sr)。
2) WGP可容納較厚的樣品架,從而可以進行各種類型的原位實驗。

3. 日本電子株式會社開發的球差(Cs)校正器已整合到顯微鏡柱中,提供超高的空間解析度。
1) 與FHP2結合時,GRAND ARM(TM)2在300kV時的STEM解析度達到53pm。
2) 與WGP結合時,GRAND ARM(TM)2在300kV時的STEM解析度達到59pm。
3) JEOL COSMO(TM)(校正系統模組)可以快速、輕鬆地進行像差校正。

4.冷場發射槍(Cold-FEG)為標準配備。
GRAND ARM(TM)2配有Cold-FEG,使得電子源擴散的能量較小。

5. 減少外部干擾的外殼
這種新的外殼是減少氣流、室溫變化和聲學雜訊等外部干擾的標準配備。

主要規格

保證的解析度

 

HAADF-STEM影像:53pm(結合ETA校正器和FHP2時)
電子槍:冷場發射槍(Cold-FEG)

 

加速電壓

 

標準:300kV和80kV

 

能量色散X光光譜儀

 

大面積SDD (158 mm2):可使用雙向檢測器
立體角:1.4sr(結合FHP2時)

年度單位銷售目標

10套/年

日本電子株式會社
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,總裁兼營運長
(股票代碼:6951,東京證券交易所第一部)
www.jeol.com

原文版本可在businesswire.com上查閱:https://www.businesswire.com/news/home/20200213005977/en/

免責聲明:本公告之原文版本乃官方授權版本。譯文僅供方便瞭解之用,煩請參照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

聯絡方式:

日本電子株式會社
科學與測量儀器銷售部
Hideya Ueno
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

JEM-ARM300F2(照片:美國商業資訊)

JEM-ARM300F2(照片:美國商業資訊)

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